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Término solicitado: JENKINS, RON^RED./(22)

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Tipo de Docum.:	libro
Título:	*A practical guide for the preparation of specimens for X-ray fluorescence and X-ray diffraction analysis*
Autor:	Buhrke, Victor E.. ed.; Jenkins, Ron. ed.; Smith, Deane K.. ed.
Idioma:	eng
Datos de Edición:	New York. US. Wiley-VCH. 1998.
Pág./Vol.:	333p.
Descriptores:	Rayos X; Fluorescencia; Difracción de rayos X; Análisis; Estadística; Dispersión; Errores; Polvo; Aplicaciones; Trituración; Absorción; Cristales; Espectrómetros; Fusión; Líquidos; Soluciones; Manipuleo; Materiales radioactivos; Dolomita; Dióxido de carbono; Calibración; Yeso; Vidrios; Cementos; Materias primas; Metales; Aluminio; Aleaciones; Titanio; Hierro; Aceros; Materiales; Oxido de aluminio; Agua superficial; Aceites; Carbón; Vegetales; Equipamiento; Propiedades; Patrones; Difractometría; Aerosoles; Cerámica; Minerales; Minas; Películas delgadas; Papel; Plásticos; Mediciones; Cámaras; Pulverización; Normalización

Ubicación:	CEQUIPE/171/Metales y A.Inorgánico
Disponibilidad:	CEQUIPE

Tipo de Docum.:	libro
Título:	*An introduction to X-ray spectrometry*
Autor:	Jenkins, Ron
Idioma:	eng
Datos de Edición:	London. GB. Heyden. 1980.
Pág./Vol.:	163p.
Descriptores:	Espectroscopía de rayos X; Rayos X; Propiedades físicas; Radiación; Difracción de rayos X; Dispersión; Espectrómetros; Cristales; Detección; Análisis cuantitativo

Ubicación:	Córdoba/543.42/J4151
Disponibilidad:	INTI-Córdoba

Tipo de Docum.:	libro
Título:	*Introduction to X-ray powder diffractometry*
Autor:	Jenkins, Ron; Snyder, Robert L.
Título Ser./Col.:	Chemical analysis; a series of monographs on analytical chemistry and its applications, 138
Idioma:	eng
Datos de Edición:	New York, US; Toronto. CA. Wiley-Interscience. 1996.
Pág./Vol.:	403p.
Descriptores:	Rayos X; Polvo; Difractometría; Radiación; Difracción de rayos X; Dispersión; Absorción; Medidas de seguridad; Estructura cristalina; Cristalografía; Simetría; Patrones; Reflexión; Intensidad; Voltaje; Alto voltaje; Tubos; Espectros; Detectores; Detección; Equipos electrónicos; Propiedades; Circuitos; Cromatografía; Filtros; Sólidos; Instrumentos de medición; Mediciones; Mantenimiento; Separación; Métodos de reducción; Calibración; Normalización; Procesamiento de datos; Errores; Calidad; Análisis cualitativo; Bases de datos; Estrategias de búsqueda; Análisis cuantitativo; Longitud de onda; Peso atómico; Densidad

Ubicación:	CEQUIPE/169/Metales y A.Inorgánico
Disponibilidad:	Préstamo

Fin

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